靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能

　　將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。

　　Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結(jié)果。

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　　靈活的檢測器選項，獲取清晰圖像

　　使用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

　　使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

　　使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。

　　使用HDBSD或YAG檢測器分析成分。

　　用戶友好,操作簡單

　　SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡潔的用戶界面。

　　它同時為操作經(jīng)驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。

　　基于實際的實驗室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。

　　但是，非專業(yè)用戶(例如學生，接受培訓不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項可滿足操作經(jīng)驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。